Current Result Document :
ÇѱÛÁ¦¸ñ(Korean Title) |
DRAM Å×½ºÆ® ÆÐÅÏ ÇÁ·Î±×·¥ÀÇ ±âÈ£ Ç¥ÇöÇü |
¿µ¹®Á¦¸ñ(English Title) |
Symbolic Representation of DRAM Test-pattern Programs |
ÀúÀÚ(Author) |
Á¶ÁßÇÏ
¹ÚÁ¤±Ù
ÀÌÀÇ»ó
¹®¼ö¹¬
Joongha Cho
Jung-Geun Park
Uisang Lee
Soo-Mook Moon
|
¿ø¹®¼ö·Ïó(Citation) |
VOL 49 NO. 02 PP. 1260 ~ 1262 (2022. 12) |
Çѱ۳»¿ë (Korean Abstract) |
DRAM ¸Þ¸ð¸®ÀÇ Å×½ºÆ®¸¦ À§ÇÑ Å×½ºÆ® ÆÐÅÏ ÇÁ·Î±×·¥Àº ATE(Automatic Test Equipment)¿¡ µû¶ó ÇÁ·Î±×·¡¹Ö ¾ð¾î°¡ ´Ù¸£°í Àú¼öÁØÀ̹ǷΠ°¡µ¶¼ºÀÌ ÇöÀúÈ÷ ¶³¾îÁø´Ù. º» ³í¹®¿¡¼´Â Å×½ºÆ® ÆÐÅÏ ÇÁ·Î±×·¥ÀÇ ºÐ¼®À» À§ÇØ »õ·Î¿î ÇüÅÂÀÇ ±âÈ£ Ç¥ÇöÇü(symbolic representation)À» Á¦½ÃÇÑ´Ù. ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç °á°ú·Î »ý¼ºµÈ Ãâ·Â ±â¹ÝÀÇ Áß°£ Ç¥ÇöÇü(intermediate representation) À¸·ÎºÎÅÍ °¢ »çÀÌŬ ÇÉ °ªÀ» ºÐ¼®ÇÏ¿© ÇØ´ç »çÀÌŬ Á¤º¸¸¦ ÃßÃâÇس»°í À̸¦ Åä´ë·Î µ¿ÀÏÇÑ ÀÛ¾÷À» ¼öÇàÇÏ´Â »çÀÌŬÀ» µ¿ÀÏÇÑ ±âÈ£·Î º¯È¯ÇÑ´Ù. »ó¿ë Å×½ºÆ® ÆÐÅÏ ÇÁ·Î±×·¥ ±â¹Ý 21°³ÀÇ º¥Ä¡¸¶Å©·Î ±âÈ£ Ç¥ÇöÇü º¯È¯À» ÁøÇàÇÏ¿´°í ÀǵµÇÑ °á°ú°¡ µµÃâµÊÀ» È®ÀÎÇÏ¿´´Ù. ¶ÇÇÑ ±âÈ£ Ç¥ÇöÇüÀ» È°¿ëÇÑ ºÐ¼® µµ±¸´Â »ç¿ëÀÚ°¡ ÆÐÅÏ ÇÁ·Î±×·¥ÀÇ ±¸Á¶¿Í ÀÛ¾÷ Àǵµ¸¦ Á÷°üÀûÀ¸·Î ÆľÇÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï µµ¿ÍÁØ´Ù. Å×½ºÆ® ÆÐÅÏ ÇÁ·Î±×·¥ÀÇ º¯È¯ÀÌ ¿Ï·áµÈ ±âÈ£ Ç¥ÇöÇüÀº ÆÐÅÏ ÇÁ·Î±×·¥ º¯È¯ ½Ã µ¿Àϼº Å×½ºÆ® ¹× ÃÖÀûÈ, ±×¸®°í °áÇÔ ¸ðµ¨(fault model) ¿ªÃß·Ð µî¿¡ È°¿ëµÉ ¼ö ÀÖ´Ù. |
¿µ¹®³»¿ë (English Abstract) |
|
Å°¿öµå(Keyword) |
|
ÆÄÀÏ÷ºÎ |
PDF ´Ù¿î·Îµå
|